Анализ наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

А. А. Ищенко; М. А. Лазов; Е. В. Миронова; А. Ю. Путин; А. М. Ионов; П. А. Стороженко

Для цитирования:

Ищенко А.А., Лазов М.А., Миронова Е.В., Путин А.Ю., Ионов А.М., Стороженко П.А. Анализ наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Тонкие химические технологии. 2023;18(2):135-167. https://doi.org/10.32362/2410-6593-2023-18-2-135-167

For citation:

Ischenko A.A., Lazov M.A., Mironova E.V., Putin A.Yu., Ionov A.M., Storozhenko P.A. Analysis of nanoparticles and nanomaterials using X-ray photoelectron spectroscopy. Fine Chemical Technologies. 2023;18(2):135-167. https://doi.org/10.32362/2410-6593-2023-18-2-135-167

Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 International License.

ISSN 2410-6593 (Print)
ISSN 2686-7575 (Online)

Логин
Пароль
	Запомнить меня
Регистрация нового пользователя Забыли Ваш пароль?

Войти

Тонкие химические технологии

Для цитирования:

For citation:

Использование куки-файлов